Objetivos

• Proporcionar formación teórica y práctica en técnicas de difracción de rayos X, especialmente utilizando detectores 2D y microdifracción.
• Al finalizar el curso, los/as alumnos/as serán capaces de manejar el difractómetro de rayos X Bruker D8 Discover  con detector 2D de manera autónoma y realizar análisis básicos de microdifracción.
• Existe la posibilidad de que los alumnos/as traigan sus propias muestras como ejemplos de análisis.

Módulo 1: Principios básicos de la difracción de rayos X

Duración: 4.5 horas

Contenido:

1.1. Fundamentos físicos: Interacción de los rayos X con la materia.

1.2. El difractómetro de rayos X

1.3. Aplicaciones de la difracción de rayos X en ciencia de materiales.

Módulo 2: Prácticas grupales Guiadas

Duración: 7.5 horas

Contenido:

2.1. Normas de seguridad y manejo del equipo: difracción de rayos X simulada.

2.2. Preparación de muestras.

2.3. Configuración del detector 2D y adquisición de datos por microdifracción.

2.4. Post-procesamiento de datos y análisis cuantitativo.

2.5. Post-procesamiento de datos y análisis cualitativo y cuantitativo.

2.6. Introducción a las bases de datos: Crystallography Open Database

Módulo 3: Prácticas Individuales

Duración: 10.5 horas

Contenido:

3.1. Manejo del difractómetro de forma individual: Realización de medidas y análisis.

3.2. Identificación de fases y determinación de parámetros cristalinos: índice de cristalinidad, orientación preferente, tamaño de dominio cristalino y parámetros de red.

3.3. Resolución de problemas prácticos y optimización de parámetros experimentales.