Formación

Cursos

En INMALAB, ofrecemos cursos de formación en técnicas avanzadas de caracterización de materiales para los usuarios del servicio. Estos cursos permiten a adquirir habilidades esenciales para el análisis preciso de materiales, mejorando cualitativamente el desarrollo de la investigación. La formación continua en INMALAB garantiza estar a la vanguardia en tecnologías de caracterización, clave para optimizar procesos y resultados.

Microdifracción de rayos X en 2 dimensiones: capacitación manejo básico y análisis de resultados del difractómetro Bruker D8 Discover.

Fecha de inicio: por concretar/bajo demanda El curso está diseñado para proporcionar una formación teórica y práctica sobre el manejo del difractómetro Bruker D8 Discover. Los participantes aprenderán los fundamentos de la difracción de rayos X, el uso de detectores 2D y la microdifracción. Además, se capacitarán en el análisis de resultados, incluyendo la identificación de fases cristalinas y el manejo de parámetros cristalinos como el tamaño de dominio y la orientación preferente. Este curso combina teoría con prácticas individuales y grupales para asegurar un aprendizaje completo.

Contenido del curso


Objetivos
Módulo 1: Principios básicos de la difracción de rayos X

Duración: 5 horas

Contenido:

1.1. Fundamentos físicos: Interacción de los rayos X con la materia.

1.2. Geometrías de difracción: Laue, Bragg-Brentano, y otros métodos.

1.3. Componentes de un difractómetro: Fuente, monocromador, colimadores, goniometría.

1.4. Detector 2D: Principios de funcionamiento y ventajas sobre detectores 1D.

1.5. Aplicaciones de la difracción de rayos X en ciencia de materiales.

1.6. Normas de seguridad y manejo del equipo: Simulación XRD.

Módulo 2: Prácticas grupales Guiadas

Duración: 6 horas

Contenido:

2.1. Introducción a la interfaz de usuario del difractómetro.

2.2. Preparación de muestras.

2.3. Configuración del detector 2D y adquisición de datos por microdifracción.

2.4. Análisis cualitativo (identificación de fases cristalinas) y semicuantitativo.

2.7. Post-procesamiento de datos y análisis cuantitativo.

Módulo 3: Prácticas Individuales

Duración: 3 horas

Contenido:

3.1. Manejo del difractómetro de forma individual: Realización de medidas y análisis.

3.2. Identificación de fases y determinación de parámetros cristalinos: índice de cristalinidad, orientación preferente, tamaño de dominio cristalino y parámetros de red.

3.3. Resolución de problemas prácticos y optimización de parámetros experimentales.

Objetivos
Módulo 1: Principios básicos de la difracción de rayos X

Duración: 5 horas

Contenido:

1.1. Fundamentos físicos: Interacción de los rayos X con la materia.

1.2. Geometrías de difracción: Laue, Bragg-Brentano, y otros métodos.

1.3. Componentes de un difractómetro: Fuente, monocromador, colimadores, goniometría.

1.4. Detector 2D: Principios de funcionamiento y ventajas sobre detectores 1D.

1.5. Aplicaciones de la difracción de rayos X en ciencia de materiales.

1.6. Normas de seguridad y manejo del equipo: Simulación XRD.

Módulo 2: Prácticas grupales Guiadas

Duración: 6 horas

Contenido:

2.1. Introducción a la interfaz de usuario del difractómetro.

2.2. Preparación de muestras.

2.3. Configuración del detector 2D y adquisición de datos por microdifracción.

2.4. Análisis cualitativo (identificación de fases cristalinas) y semicuantitativo.

2.7. Post-procesamiento de datos y análisis cuantitativo.

Módulo 3: Prácticas Individuales

Duración: 3 horas

Contenido:

3.1. Manejo del difractómetro de forma individual: Realización de medidas y análisis.

3.2. Identificación de fases y determinación de parámetros cristalinos: índice de cristalinidad, orientación preferente, tamaño de dominio cristalino y parámetros de red.

3.3. Resolución de problemas prácticos y optimización de parámetros experimentales.

Scroll al inicio